Microscópio eletrônico de varredura e o tipo de radiação
Com um microscópio eletrônico de varredura, as superfícies de uma ampla variedade de materiais podem ser examinadas e fotografadas. Vários tipos de raios que surgem no microscópio são usados para esse propósito.
Como funciona um microscópio eletrônico de varredura
- Um microscópio eletrônico de varredura (SEM) é usado principalmente para examinar as superfícies dos materiais.
- Muitos dispositivos também são equipados com um detector EDX para espectroscopia de energia dispersiva de raios-X, com o qual a composição química da amostra pode ser examinada.
- Com o microscópio eletrônico de varredura, uma ampliação de até 100.000 vezes pode ser alcançada. Está, portanto, na faixa de ampliação entre o microscópio óptico e o microscópio eletrônico de transmissão.
- O compartimento catódico está localizado na parte superior do SEM. O cátodo é aquecido a tal ponto que os elétrons emergem dele. Esses elétrons são agrupados e acelerados em direção à amostra com uma tensão de aceleração de 10-30 kV. Este feixe de elétrons é chamado de feixe primário (é o primeiro tipo de feixe no MEV).
- O feixe primário é guiado (escaneado) sobre a superfície da amostra por bobinas de deflexão. Se o feixe de elétrons atingir a superfície da amostra, os elétrons interagem com o Os átomos da amostra e existem diferentes tipos de radiação, que são medidos por detectores posso.
Microscópio eletrônico - a função simplesmente explicada
Um dos instrumentos mais importantes usados pelos pesquisadores de materiais é o microscópio eletrônico. …
Os diferentes tipos de raios
- A fonte de informação mais importante são os chamados elétrons secundários. Eles surgem da interação do feixe primário com os átomos próximos à superfície e têm um energia de alguns elétron-volts. Eles representam a topografia da amostra. As áreas voltadas para o detector parecem claras, as áreas voltadas para o lado oposto parecem escuras. Fala-se do contraste da inclinação da superfície.
- Além disso, elétrons retroespalhados podem ser usados para geração de imagens. Esses são elétrons do feixe primário que são retroespalhados pela amostra. A intensidade dos elétrons retroespalhados depende do número atômico Z dos átomos da superfície. Os átomos pesados espalham os elétrons com mais força do que os leves, de modo que as áreas nas quais há átomos pesados são mostradas mais claras. Isso é chamado de Z ou contraste de material. Isso significa que podem ser tiradas conclusões sobre a composição química da superfície.
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